TO 各位考生、家長：
附件為 115.3.7(六)中正國小辦理本縣 115 學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置初選試場相關訊息，請參閱！
也請考生及家長詳閱注意事項，當天務必攜帶入場證及備妥應試所需文具，於指定時間至指定地點報到,逾時不得入場。因本校周邊停車不易,請考生家長預留交通時間,及早進入校區準備。(當天參加學前及國小資優鑑定評量的考生及家長統一由中正路大門進出)
3/7(六)8:10-8:30 (08:10 開放考生進入) 考生可前往中和樓 2 樓 考場(走廊)查看試場位置。
有申請身心障礙及特殊考生應考服務者，請依規定時間(3/7 早上 08:40/10:10)至試務服務處(中正樓 1 樓 輔導室 )報到由試場人員協助引導。
☑初選試場注意事項
1. 考生請按各節測驗時間憑鑑定入場證入場。若鑑定入場證遺失,請自備相片及身份證明文件(如:健保卡),申請補發。(考試當日補發地點為中正樓 1 樓試務服務處)
2. 請自備文具用品(鉛筆、橡皮擦、透明無任何字與格線之墊板等),測驗時不得向他人借用。非鑑定必需物品(如小刀及剪刀),不得攜入試場。
3. 參加鑑定之學生請務必攜帶鑑定入場證,於指定時間至指定地點報到,逾時不得入場。因本校周邊停車不易,請考生家長預留交通時間,及早進入校區準備。
4. 考生若需陪同僅限年滿 18 歲以上家長人數 1 位並遵守考場秩序不喧嘩(包括講手機音量)、不嬉戲,於考生休息室(中強樓 1 樓會議室)等候。
5. 手機及電子穿戴式裝置或其他具有資訊傳輸、感應、拍攝或記錄功能之器具、設備和非考試必須之物品(如計算機、空白紙),不得攜入試場。其中電子穿戴式裝
置包括智慧型手錶及電子手錶。
6. 考生於測驗期間不得有交談、左顧右盼、偷看、抄襲、頂替或舞弊情事舞弊行為。
7. 考生不得污損試卷及答案卡或在試卷上作任何標記。
8. 抄錄測驗內容為侵害智慧財產權之行為,如經發現取消鑑定資格。
9. 如遇到警報或施測時間已到,不論是否寫完,應立即停止作答,聽從監試人員指導,依序離開。
10. 考生不得將試題及答案卡(卷)攜出試場,違者取消鑑定資格。
11. 違反上述相關規定者,提報鑑輔會進行審議。
12. 如有其他未盡事項,經本縣鑑輔會通過後實施,修正時亦同。
